Tales of Suspense # 46
Con: Iron Man
Uscita: 9 luglio 1963
Copertina: ottobre 1963
Trama: Stan Lee
Sceneggiatura: R. Berns
Tales of Suspense # 46
Con: Iron Man
Uscita: 9 luglio 1963
Copertina: ottobre 1963
Trama: Stan Lee
Sceneggiatura: R. Berns
A come Amzon (l'e-commerce più fornito)
B come Bside ESR02 pro (uno dei prodotti più venduti)
C come circuito
D come Drok (uno dei marchi di produzione e vendita più famosi)
E come elettronica
F come funzionamento
G come generatore
H come Harold Gruen (uno dei due inventori del prova transistor)
I come interruttore
L come Longruner TC1 (uno dei prodotti più venduti)
M come milliamperometro
N come Nuova elettronica (rivista storica)
O come Oumefar (produttore)
P come Popular Electronics (rivista storica)
Q come qualità
R come resistore
S come soglia
T come trasferimento
V come visualizzazione
Z come Zechter Sol (uno dei due inventori del prova transistor)
9: numero di connettori esterni per il generatore di corrente continua (modello 510B, BK Precision) [1]
5: tensione di alimentazione minima in un provatransistor [2]
Inventori: Zechter Sol e Gruen Harold (1959)
Assegnatario attuale: Space Systems Loral LLC
Descrizione: la presente invenzione si riferisce al collaudo di circuiti e ai mezzi per testare i transistor bipolari mentre sono collegati a circuiti di amplificazione o simili.
Inventori: William Cagle, Walter Muroski (1959)
Assegnatario attuale: Nokia Bell Labs
Descrizione: la presente invenzione si riferisce in generale ai circuiti e più in particolare alle disposizioni per determinare le caratteristiche di commutazione del segnale dei transistor
Inventori: Donald R Proctor e Donald Sweet (1963)
Assegnatario attuale: EECO Inc.
Descrizione: il tester è adatto per la determinazione ordinaria della continuità della conduzione elettrica del cablaggio o di semplici dispositivi elettrici.
Inventore: Athanase Tsergas (1968)
Assegnatario attuale: RAM TOOL CORP
Descrizione: dispositivo per eseguire una serie di test diversi su ogni componente di SCRS, diodi e transistor.
Inventori: Paul Schreiber, Douglas Curtis (1992)
Assegnatario attuale: Tandy Corp.
Descrizione: La presente invenzione si riferisce in generale al campo degli strumenti di sicurezza e, più in particolare, a tester automatici per transistor.
[1] https://patentimages.storage.googleapis.com/8b/1d/38/2b0cdda2af520f/US3051900.pdf
[2] https://patentimages.storage.googleapis.com/1d/c9/20/c5a8dcab0d3e41/US3041537.pdf
[3] https://patentimages.storage.googleapis.com/20/ca/d2/d95bee43eda29b/US3259841.pdf
[4] https://patentimages.storage.googleapis.com/10/e5/27/26271e10f14ff2/US3478264.pdf
[5] https://patentimages.storage.googleapis.com/f7/a5/10/e930e06768698f/US5355082.pdf
[1] https://www.okpedia.it/scienza
[2] https://it.wikipedia.org/wiki/Categoria:Branche_della_fisica
[3] https://it.wikipedia.org/wiki/Elettronica
[4] http://www.edutecnica.it/elettronica/riassunto/riassunto.htm
[5] http://webuser.unicas.it/arrichiello/file_didattica/2_TIA_Dispositivi_Controllo.pdf
Pubblicità prova transistor Supertester 680E (1970) [1]
[1] http://www.introni.it/pdf/Sperimentare%201970_04.pdf
Il prova transistor, definito come strumento utile a testare il comportamento elettrico di transistor e diodi allo stato solido, utile, quin...